9月8日，国家重点研发计划“高性能无源敏感薄膜材料Si基异质异构集成方法及传感器芯片研发”项目中期检查会议在中科院新疆理化技术研究所举行。 

　　会议由科技部高技术中心材料处专项主管杨斌主持。新疆理化所党委书记崔旺诚致辞，表示会议在新疆理化所召开是给予了新疆理化所一个学习与交流的机会，希望新疆理化所把握此次机会，在今后的工作层面、学习层面上都能有收获。 

        科技部高技术中心材料处处长史冬梅对此次中期检查提出了严格的要求；专家组组长中国信息通信科技集团周彬研究员对专家组成员的工作进行分工；项目负责人电子科技大学张万里教授对项目的总体情况进行了详细的报告。随后，专家组成员还现场查看了薄膜和器件样品，考察了研发条件。最后专家组进行了质询和评议，认为该项目已经取得了一些重要的成果，完成了中期目标，同时也对该项目提出了很多中肯的建议与意见，项目中期检查顺利完成。

会议现场