全内反射荧光显微镜(Total Internal Reflection Fluorescence Microscope, TIRFM) 是利用在高折射率和低折射率介质边界处诱导的隐失波，选择性地激发样品表面-个波长内的荧光团。由于隐失波呈指数衰减的特性，只有极靠近全反射面的样品的荧光才会被激发，这大大降低了背景光噪声对样品观测的干扰，因此，研究者更容易获得可靠的和高质量的测试数据。将全内反射荧光( TIRF )与快速荧光共振能量转移(FRET)技术相结合。可分析单分子结构、荧光成像或延时成像，生成高质量图像，从而显著提高了科学研究的效率。